Español
|
Català
|
English
Microscòpia electrònica de rastreig (SEM)
SEM convencional (electrons secundaris i retrodispersats).
FE-SEM (alta resolució).
ESEM (baix buit).
Microanàlisi RX (EDS).
Catodoluminiscència SEM-CL.
Difracció d’electrons BSED.
Cryo-SEM.
Preparació de mostres per a SEM.
Observació i anàlisi de materials sòlids.
Assistència tècnica en totes les tècniques disponibles.
Superfícies tractades.
Caracterització de materials sòlids.
Caracterització de minerals i roques.
Partícules i contaminants.
Productes farmacèutics.
Control de qualitat.
Cognoms
Nom
Ubicació
Telèfon
Email
ARTIAGA TORRES
DAVID
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934021701
dartiaga@ccit.ub.edu
GARCIA VEIGAS (*)
JAVIER
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934021701
veigas@ccit.ub.edu
(*) per a més informació.
Highlighted links:
Contactar
Reservar
Alta usuari