Microscòpia electrònica de rastreig (SEM)
- SEM convencional (electrons secundaris i retrodispersats).
- FE-SEM (alta resolució).
- ESEM (baix buit).
- Microanàlisi RX (EDS).
- Catodoluminiscència SEM-CL.
- Difracció d’electrons BSED.
- Cryo-SEM.
- Preparació de mostres per a SEM.
- Observació i anàlisi de materials sòlids.
- Assistència tècnica en totes les tècniques disponibles.
- Superfícies tractades.
- Caracterització de materials sòlids.
- Caracterització de minerals i roques.
- Partícules i contaminants.
- Productes farmacèutics.
- Control de qualitat.
Highlighted links: