Centres Científics i Tecnològics UB

Microscopía electrónica de barrido (SEM)

  • SEM convencional (electrones secundarios y retrodispersados).
  • FE-SEM (alta resolución).
  • ESEM (bajo vacío).
  • Microanálisis RX (EDS).
  • Catodoluminiscencia SEM-CL.
  • Difracción de electrones BSED.
  • Cryo-SEM.
  • Preparación de muestras para SEM.
  • Observación y análisis de materiales sólidos.
  • Asistencia técnica en todas las técnicas disponibles.
  • Superficies tratadas.
  • Caracterización de materiales sólidos.
  • Caracterización de minerales y rocas.
  • Partículas y contaminantes.
  • Productos farmacéuticos.
  • Control de calidad.


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