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23.09.2022

Cuarto Workshop Internacional de ELECMI

El próximo 27 y 28 de octubre se celebrará el 4º workshop internacional de ELECMI en la Universidad de Barcelona.

La edición de este año se organiza desde los CCiTUB conjuntamente con el resto de nodos de la ICTS ELECMI el Centro Nacional de Microscopía Electrónica (CNME) de la Universidad Complutense de Madrid, el Laboratorio de Microscopias Avanzadas (LMA) de la Universidad de Zaragoza y la División de Microscopía Electrónica (DME) de la Universidad de Cádiz, y cuenta con la colaboración del Instituto de Nanociencia y Nanotecnología(IN2) de la Universidad de Barcelona y la Sociedad de Microscopía de España (SME).

El workshop, orientado a investigadores interesados en técnicas de microscopía de transmisión y otras técnicas analíticas relacionadas, contará con la participación de expertos e investigadores que trabajan a la vanguardia de los desarrollos técnicos y metodológicos del campo.

A lo largo de las dos jornadas del evento, que tendrán lugar en el Aula Magna de la Facultad de Física, los diferentes expertos presentarán sus últimos resultados con el objetivo de ilustrar el potencial de estas técnicas, tanto para la caracterización de materiales como para muestras biológicas. El programa completo puede consultarse aquí.

La inscripción en el workshop está abierta, es gratuita y se aceptarán inscripciones hasta el 10 de octubre.

Infraestructura Integrada de Microscopía Electrónica de Materiales (ICTS ELECMI)

ELECMI, Infraestructura Integrada de Microscopía Electrónica de Materiales, es una ICTS incluida en el Mapa de Infraestructuras Científicas y Técnicas Singulares en Espanya, de la que el laboratorio de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales (UMEAP) de los CCiTUB forma parte.

Dispone de personal altamente especializado en técnicas de caracterización por microscopía electrónica de transmisión y técnicas analíticas relacionadas (Espectroscopia EELS y EDXS), así como en el tratamiento avanzado de datos y simulación. Dispone, además, de sistemas de precesión del haz (para difracción electrónica en 3D, cristalografía electrónica, reconocimiento de fases cristalinas y mapas de orientación y tensión) y de portamuestras específicos para microscopía in situ y tomografía electrónica.

El acceso a estos servicios se realiza por acceso abierto competitivoregulado a través de un comité científico externo mediante un proceso de evaluación transparente e independiente.

Més informació

Fechas: 27-28 octubre 2022

Fecha límite inscripción: 10 octubre 2022

Inscripción y programa: http://www.ccit.ub.edu/elecmi4/

Localización

Facultad de Física de la Universitat de Barcelona
Aula Magna Enric Cassasses
Carrer de Martí i Franquès, 1
08028 Barcelona