MET Aplicada a Materiales

	TEM para obtención de imágenes en alta resolución (200KV FEG).
	TEM para obtención de imágenes con contraste de número atómico (STEM/HAADF).
	TEM para obtención de patrones de difracción en precesión.
	TEM para obtención de espectros y mapas elementales con pérdidas de energias (EELS).
	TEM para obtención de espectros y mapas elementales con rayos X (EDS).
	TEM para obtención de séries tomográficas con vistas a reconstrucciones 3D.
	Preparación de muestras electrotransparentes en planta y en sección con adelgazamiento iónico y electrolítico y preparación de suspensiones.
	Preparación de muestras electrotransparentes por FIB.

	Formación:
		Básica y avanzada para el maneig de los equipos TEM en autoservicio.
		Para la preparación de muestras electrotransparentes en autoservicio.
		Para la interpretación de imágenes, espectros y difracciones.
	Asesoría para la correcta obtención de resultados en usuarios en régimen de utilización asistido.
	Análisis de muestras por TEM de forma no-presencial para cantidades limitadas de muestras.

	Análisis elemental y estructural de precipitados nanométricos
	Análisis morfológica y elemental de nanopartículas catalíticas y soportes mesopóricos.

Apellidos	Nombre	Ubicación	Teléfono	Email
BARBA FERRER	MARIA	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021695	mariabarba@ccit.ub.edu
LÓPEZ CONESA (*)	LUÍS	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021695	llopez@ccit.ub.edu
MARTINEZ RUIZ	GEMMA MARTA	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021695	gema@ccit.ub.edu
MATA RODRIGUEZ	FELIX	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021695	felix@ccit.ub.edu
MENDOZA GOLZALVEZ	JUAN JOSE	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021695	mendoza@ccit.ub.edu

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