Centres Científics i Tecnològics UB

MET Aplicada a Materiales

TEM para obtención de imágenes en alta resolución (200KV FEG).
TEM para obtención de imágenes con contraste de número atómico (STEM/HAADF).
TEM para obtención de patrones de difracción en precesión.
TEM para obtención de espectros y mapas elementales con pérdidas de energias (EELS).
TEM para obtención de espectros y mapas elementales con rayos X (EDS).
TEM para obtención de séries tomográficas con vistas a reconstrucciones 3D.
Preparación de muestras electrotransparentes en planta y en sección con adelgazamiento iónico y electrolítico y preparación de suspensiones.
Preparación de muestras electrotransparentes por FIB.
Formación:
Básica y avanzada para el maneig de los equipos TEM en autoservicio.
Para la preparación de muestras electrotransparentes en autoservicio.
Para la interpretación de imágenes, espectros y difracciones.
Asesoría para la correcta obtención de resultados en usuarios en régimen de utilización asistido.
Análisis de muestras por TEM de forma no-presencial para cantidades limitadas de muestras.
Análisis elemental y estructural de precipitados nanométricos
Análisis morfológica y elemental de nanopartículas catalíticas y soportes mesopóricos.

Apellidos Nombre Ubicación Teléfono Email
BARBA FERRER MARIA CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 mariabarba@ccit.ub.edu
LÓPEZ CONESA LUÍS CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 llopez@ccit.ub.edu
MARTINEZ RUIZ GEMMA MARTA CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 gema@ccit.ub.edu
MATA RODRIGUEZ FELIX CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 felix@ccit.ub.edu
MENDOZA GOLZALVEZ JUAN JOSE CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 mendoza@ccit.ub.edu


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