Centres Científics i Tecnològics UB

MET Aplicada a Materials

Contacte: temmat@ccit.ub.edu

TEM per obtenció d’imatges en alta resolució (200KV FEG).
TEM per obtenció d’imatges amb contrast de nombre atòmic (STEM/HAADF).
TEM per obtenció de patrons de difracció en precessió.
TEM per obtenció d’espectres i mapes elementals amb pèrdues d’energies (EELS).
TEM per obtenció d’espectres i mapes elementals amb raigs X (EDS).
TEM per obtenció de sèries tomogràfiques amb vistes a reconstruccions 3D.
Preparació de mostres electrotransparents en planta i en secció amb aprimament iònic i electrolític i preparació de suspensions.
Preparació de mostres electrotransparents per FIB.
Formació:
Bàsica i avançada per al maneig dels equipaments TEM en autoservei.
Per a la preparació de mostres electrotransparents en autoservei.
Per a la interpretació d’imatges, espectres i difraccions.
Assessorament per a la correcta obtenció de resultats en usuaris en règim d’utilització assistit.
Anàlisi de mostres per TEM de forma no-presencial per a quantitats limitades de mostres.
Anàlisi elemental i estructural de precipitats nanomètrics.
Anàlisi morfològica i elemental de nanopartícules catalítiques i suports mesopòrics.

Cognoms Nom Ubicació Telèfon Email
BARBA FERRER MARIA CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 mariabarba@ccit.ub.edu
LÓPEZ CONESA LUÍS CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 llopez@ccit.ub.edu
MATA RODRIGUEZ FELIX CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 felix@ccit.ub.edu
MENDOZA GOLZALVEZ (*) JUAN JOSE CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934021695 mendoza@ccit.ub.edu


      (*) per a més informació