Notícies
23.09.2022Quart Workshop Internacional d’ELECMI
El proper 27 i 28 d’octubre es celebrarà el 4t workshop internacional d’ELECMI a la Universitat de Barcelona.
L'edició d’aquest any s’organitza des dels CCiTUB conjuntament amb la resta de nodes de la ICTS ELECMI el Centro Nacional de Microscopía Electrónica (CNME) de la Universidad Complutense de Madrid, el Laboratorio de Microscopias Avanzadas (LMA) de la Universidad de Zaragoza i la División de Microscopía Electrónica (DME) de la Universidad de Cádiz, i compta amb la col·laboració de l’Institut de Nanociència i Nanotecnologia (IN2) de la Universitat de Barcelona i la Sociedad de Microscopía de España (SME).
El workshop, orientat a investigadors interessats en tècniques de microscòpia de transmissió i altres tècniques analítiques relacionades, comptarà amb la participació d’experts i investigadors que treballen a l’avantguarda dels desenvolupaments tècnics i metodològics en el camp.
Al llarg de les dues jornades de l’esdeveniment, que tindran lloc a l’Aula Magna de la Facultat de Física, els diferents experts presentaran els seus últims resultats amb l’objectiu d’il·lustrar el potencial d’aquestes tècniques, tant per a la caracterització de materials com de mostres biològiques. El programa complet pot consultar-se aquí.
La inscripció al workshop està oberta, és gratuïta i s’acceptaran inscripcions fins al 10 d’octubre.
Infraestructura Integrada de Microscòpia Electrónica de Materials (ICTS ELECMI)
ELECMI, Infraestructura Integrada de Microscòpia Electrònica de Materials, és una ICTS inclosa en el Mapa d'Infraestructures Científiques i Tècniques Singulars (ICTS) a Espanya, de la qual el laboratori de Microscòpia Electrònica Aplicada a Materals (UMEAP) dels CCiTUB en forma part.
Disposa de personal altament especialitzat en tècniques de caracterització per microscòpia electrònica de transmissió i tècniques analítiques relacionades (Espectroscòpia EELS i EDXS), així com en el tractament avançat de dades i simulació. Disposa, a més, de sistemes precessió del feix (per a difracció electrònica en 3D, cristal·lografia electrònica, reconeixement de fases cristal·lines i mapes d’orientació i tensió) i de portamostres específics per a microscòpia in situ i tomografia electrònica.
L’accés a aquests serveis es realitza per accés obert competitiuregulat a través d’un comitè científic extern mitjançant un procés d’avaluació transparent i independent
Més informació
Dates: 27-28 octubre 2022
Data límit inscripció: 10 octubre 2022
Inscripció i programa: http://www.ccit.ub.edu/elecmi4/
Lloc:Facultat de Física de la Universitat de BarcelonaAula Magna Enric Cassasses Carrer de Martí i Franquès, 1 08028 Barcelona |
 |