Español | Català | English

Workshop avançat en mesures nanomecàniques per AFM

Info
Programa
Inscripció
Speakers
Organitzadors
Documentació

Objectius

Dirigit a

Metodologia

Data

Lloc

Objectius del curs

Obtenir paràmetres mecànics qualitatius i quantitatius de tot tipus de mostres mitjançant l'ús de diferents formes de treball d'AFM, tant en aire com en líquid. Els assistents poden portar les seves mostres per a que els enginyers d'aplicacions donin solucions als seus problemes específics.

Les xerrades tècniques i científiques impartides per tècnics d'aplicacions i científics de renom donaran la base teòrica. Les sesions pràctiques amb AFMs d'última generació proporcionaran els coneixements experimentals.
El nombre reduït d'assistents facilitarà la màxima interacció entre els experts i els estudiants.

Dirigit a

Els cursos ofereixen entrenament específic sobre Microscòpia de Forces Atòmiques per a estudiants de doctorat, post-doctorat o científics en general que treballen en Ciències de la Vida o Ciència de Materials. Indicat per a nous usuaris de l'AFM o usuaris que busquen un entrenament teòric/pràctic avançat sobre aquest mode de treball específic.

8.30-9.00h	Registration
9.00-09.30h	Introduction by BRUKER Traditional Measuring Techniques: Force Spectroscopy, Force Volume, Contact-Friction
9.30-10.15h	Oral presentation by invited speaker
	Jordi Fraxedas (CIN2), 19th september
	Gerard Oncins (CCiTUB), 20th september
10.15-11.00h	Coffee Break
11.00-12.00h	Technical/practical talk 1: HarmoniX and Peak Force QNM
12.00-13.00h	Technical/practical talk 2: High Resolution images using Peak Force Tapping
13.00-13.30h	Practical solutions to your samples: roundtable discussion
13.30-15.00h	Lunch (not included)
15.00-18.00h	Hands-on demo by BRUKER (AFM system: Multimode 8)

Inscripció tancada.

Si necessiten informació sobre el curs o els propers cursos a realitzar, si us plau, contactin via email amb nano@ccit.ub.edu.

Per a més informació:

Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB.

Conferenciants

Dr. Jordi Díaz. Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB

Mickael Febvre (applications engineer, Bruker).

Dr. Jordi Fraxedas (group leader of the "Small Molecules on Surfaces in ambient and pristine conditions Group" (CIN2)). Titile of the talk: Nanoindentation of carbon nanotubes by AFM: how to extract quantitative energetic information.

Dr. Gerard Oncins. Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB

Organitza:
Centres Científics i Tecnològics Universitat de Barcelona Director: Dr. Jose Ramón Seoane Trigo Coordinador: Dr. Jordi Díaz Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB.	BRUKER