Workshop avanzado en medidas nanomecánicas por AFM

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Objetivos del curso Obtener parámetros mecánicos cualitativos y cuantitativos de todo tipo de muestras mediante el uso de diferentes modos de trabajo de AFM, tanto en aire como en líquido. Los asistentes pueden traer sus muestras para que los ingenieros de aplicaciones den soluciones a sus problemas específicos. Las charlas técnicas y científicas impartidas por técnicos de aplicaciones y científicos de renombre darán la base teórica. Las sesiones prácticas con AFMs de última generación proporcionarán los conocimientos experimentales. El número reducido de asistentes facilitará la máxima interacción entre los expertos y los estudiantes.  A quién va dirigido Los cursos ofrecen entrenamiento específico sobre Microscopía de Fuerzas Atómicas para estudiantes de doctorado, post-doctorado o científicos en general que trabajen en Ciencias de la Vida o Ciencia de Materiales. Indicado para nuevos usuarios del AFM o usuarios que busquen un entrenamiento teórico/práctico avanzado sobre este modo de trabajo específico.  Metodología Charlas técnicas y científicas: 3 horas Demostraciones prácticas: 5 horas Grupos reducidos: 15 personas por día.  Fecha 19 de Septiembre: 1st Workshop 20 de Septiembre: 2nd Workshop  Lugar Edificio CCiTUB C/ Lluís Solé i Sabarís, 1 08028 Barcelona

8.30-9.00h Registration 9.00-09.30h Introduction by BRUKER Traditional Measuring Techniques: Force Spectroscopy, Force Volume, Contact-Friction 9.30-10.15h Oral presentation by invited speaker:       Jordi Fraxedas (CIN2), 19th september       Gerard Oncins (CCiTUB), 20th september 10.15-11.00h Coffee Break 11.00-12.00h Technical/practical talk 1: HarmoniX and Peak Force QNM 12.00-13.00h Technical/practical talk 2: High Resolution images using Peak Force Tapping 13.00-13.30h Practical solutions to your samples: roundtable discussion 13.30-15.00h Lunch (not included) 15.00-18.00h Hands-on demo by BRUKER (AFM system: Multimode 8)

Inscripción cerrada. Si necesitan información sobre el curso y sobre próximas ediciones, por favor, contacten via email con nano@ccit.ub.edu. Para más información: Tecnología de Microscopía de sonda próxima (AFM, STM) y interferometría-confocal. CCiTUB.

Conferenciantes Dr. Jordi Díaz. Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB Mickael Febvre (applications engineer, Bruker). Dr. Jordi Fraxedas (group leader of the "Small Molecules on Surfaces in ambient and pristine conditions Group" (CIN2)). Titile of the talk: Nanoindentation of carbon nanotubes by AFM: how to extract quantitative energetic information. Dr. Gerard Oncins. Tecnologia de Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal. CCiTUB

Organiza: Centres Científics i Tecnològics Universitat de Barcelona Director: Dr. Jose Ramón Seoane Trigo Coordinador: Dr. Jordi Díaz Tecnología de Microscopía de sonda próxima (AFM, STM) y interferometría-confocal. CCiTUB. BRUKER

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