Centres Científics i Tecnològics UB

Microscopía de sonda próxima (AFM, STM) y interferometría-confocal

Contacto: nano@ccit.ub.edu

Microscopías SPM (AFM, STM, LFM, MFM, EFM, c-AFM, TUNA)
Espectroscopía de fuerzas (propiedades nanomecánicas)
Microscopía interferométrica
Microscopía confocal
Microscopía óptica
Análisis topográfica con resolución atómica.
Medición de propiedades nanomecániques.
Medición de propiedades físicas: conductividad, dominios magnéticos y cargas superficiales.
Medición de contraste composicional: medición de fase y fricción cuantitativa (LFM).
Mediciones con microscopía óptica avanzada (confocal, interferometría, óptica)
Mediciones rugosidad superficial con escala desde el nm hasta el mm.
Análisis de muestras metálicas, poliméricas, cerámicas y composites a nivel nano.
Cursos de formación de autousuarios.
Estudios científicos de materiales a nivel nano.
Topografía superficial de materiales.
Topografía 3D de implantes.
Análisis de propiedades mecánicas de productos cosméticos.
Medición de contraste composicional.
Medición de propiedades físicas (conducción, magnetismo).
Grosor de capas finas conductoras o ferromagnéticas (Electrónica/Spintrónica).
Textura superficial en superficies ópticas (Óptica).
Desgaste de piezas mecánicas. Rodamientos, piezas de fricción, ...... (Mecánica).
Análisis de el acabado superficial de piezas mecanizadas o electropulidas (QC Industrial).
Textura superficial en sólidos de aplicación en alimentación y cosmética (Formulación Ind).
Degradación superficial de materiales Biocompatibles (Bio).
Topografía de materiales Biológicos (Dientes, Huesos, Piel,....).
Aplicaciones de los parámetros de rugosidad 3D (tribología, odontología, química, óptica,...).
Estudios de propiedades nanomecánicas (adhesión, etc) con control de humedad.
Estudio de propiedades físicas y morfológicas para el campo de la nanoseguridad.

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