Centres Científics i Tecnològics UB

Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal

Contacte: nano@ccit.ub.edu

Microscòpies SPM (AFM, STM, LFM, MFM, EFM, c-AFM, TUNA)
Espectroscòpia de forces (propietats nanomecàniques)
Microscòpia interferomètrica
Microscòpia confocal
Microscòpia òptica
Anàlisi topogràfica amb resolució atòmica.
Mesura de propietats nanomecàniques.
Mesura de propietats físiques: conductivitat, dominis magnètics i càrregues superficials.
Mesura de contrast composicional: mesura de fase i fricció quantitativa (LFM).
Mesures amb microscòpia òptica avançada (confocal, interferometria, òptica)
Mesures rugositat superficial amb escala des del nm fins el mm.
Anàlisi de mostres metàli·lques, polimèriques, ceràmiques i composites a nivell nano.
Cursos de formació d’autousuaris.
Estudis científics de materials a nivell nano.
Topografia superficial de materials.
Topografia 3D d’implants.
Anàlisi de propietats mecàniques de productes cosmètics.
Mesura de contrast composicional.
Mesura de propietats físiques (conducció, magnetisme).
Gruix de capes fines conductores o ferromagnètiques (Electrònica/Spintrònica).
Textura superficial en superfícies òptiques (Òptica).
Desgast de peces mecàniques. Rodaments, peces de fricció, ...... (Mecànica).
Anàlisi de l’acabat superficial de peces mecanitzades o electropolides (QC Industrial).
Textura superficial en sòlids d’aplicació en alimentació i cosmètica (Formulació Ind).
Degradació superficial de materials Biocompatibles (Bio).
Topografia de materials Biològics (Dents, Ossos, Pell,....).
Aplicacions dels paràmetres de rugositat 3D (tribologia, odontologia, química, òptica,...).
Estudis de propietats nanomecàniques (adhesió, etc) amb control de humitat.
Estudi de propietats físiques i morfològiques pel camp de la nanoseguretat.

Cognoms Nom Ubicació Telèfon Fax Email
DIAZ MARCOS (*) JORDI CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934020593/
934034754
934021398 jdiaz@ccit.ub.edu


      (*) per a més informació