JSM 7100-F con EDS

El JSM 7100-F es un Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo equipado con EDS

Características del equipo

• Detector EDS Pentafex-INCA (Oxford Instruments)
• Detector de electrones secundarios E-T (en cámara)
• Detector de electrones retrodispersados (en cámara)
• Espectrómetro de catodoluminiscencia (MONOCL4 Gatan)

Aplicaciones de la tecnología

• Microscopía de alta resolución en alto vacío
• Caracterización microscópica de materiales
• Microanálisis cualitativo de materiales sólidos

Ubicación

El microscopio JSM 7100-F equipado con EDS se gestiona desde la Unidad de microscopía electrónica y técnicas afines y está ubicado en el Campus Diagonal, en el edificio principal de los CCiTUB.