JSM 7100-F con EDS

El JSM 7100‑F és un Microscopi Electrònic d’Escaneig d’Emissió de Camp equipat amb EDS.

Característiques de l’equip

• Detector EDS Pentafex‑INCA (Oxford Instruments)
• Detector d’electrons secundaris E‑T (a càmera)
• Detector d’electrons retrodispersats (a càmera)
• Espectròmetre de catodoluminescència (MONOCL4, Gatan)

Aplicacions de la tecnologia

• Microscopía d’alta resolució en alt buit
• Caracterització microscòpica de materials
• Microanàlisi qualitativa de materials sòlids

Ubicació

El microscopi JSM 7100‑F equipat amb EDS es gestiona des de la Unitat de Microscòpia Electrònica i Tècniques Afins i està ubicat al Campus Diagonal, a l’edifici principal dels CCiTUB.