XPS/UPS
- Espectroscòpia de fotoelectrons (ESCA o XPS).
- Microscòpia Auger (SAM).
- Espectroscòpia per excitació ultraviolada (UPS).
- Anàlisi química elemental i semiquantitativa de superfícies (primers 5-10 nanòmetres a la superfície del material).
- Tractament espectral especialitzat per a interpretar adequadament la informació obtinguda.
- Anàlisi de les contribucions de diferents estats químics d'un mateix element (per exemple oxidacions versus components metàl·liques).
- Estudis de problemes originats als processos de disseny o producció (com a contaminacions superficials) en, per exemple, pintures, productes químics, fàrmacs, cablejats, recobriments metàl·lics i implants dentals.
- Estudis perfilomètrics de materials amb estructures multicapa (fins a un màxim de 0,5 micres).
Enllaços d'interès: