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En el microscopio electrónico de transmisión (TEM), un electrón incidente sufre tantos choques elásticos como inelásticos al atravesar la muestra delgada de estado sólido que se está caracterizando. En caso de choque inelástico, el electrón incidente cede parte de su energía a los electrones de la muestra. La cantidad de energía perdida se puede medir con un filtro magnético situado al final de la columna, obteniendo un espectro de pérdida de energía de los electrones, o espectro EELS. Hoy en día el EELS se ha convertido en un instrumento crucial en la ciencia de materiales a causa de la progresiva reducción de la escala característica implicada en el desarrollo de esta disciplina, y también gracias a la mejora instrumental que ha tenido lugar en los últimos años tanto en la microscopía electrónica en general como en EELS en particular.
Fecha: 15/05/2013
Hora: 10:30h a 11:30h
Lugar: Aula de los CCiTUB. Edificio CCiTUB, 1ª planta. c/Lluís Solé i Sabarís, 1-3. Barcelona
Coste: Gratuito
Ponente:Sonia Estradé, MET aplicada a materiales de los CCiTUB
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