Informació
En el microscopi electrònic de transmissió (TEM), un electró incident pateix tant xocs elàstics com inelàstics en travessar la mostra prima d’estat sòlid que s’està caracteritzant. En cas de xoc inelàstic, l’electró incident cedeix part de la seva energia als electrons de la mostra. La quantitat d’energia perduda es pot mesurar amb un filtre magnètic situat al final de la columna, obtenint un espectre de pèrdua d’energia dels electrons, o espectre EELS. Avui en dia l’EELS s’ha convertit en un instrument crucial a la ciència de materials a causa de la progressiva reducció de l’escala característica implicada en el desenvolupament d’aquesta disciplina, i també gràcies a la millora instrumental que ha tingut lloc en els darrers anys tant en la microscòpia electrònica en general com en l’EELS en particular.
Data: 15/05/2013
Hora: 10:30h a 11:30h
Lloc: Aula dels CCiTUB. Edifici CCiTUB, 1ª planta. c/Lluís Solé i Sabarís, 1-3. Barcelona
Cost: Gratuït
Ponent: Sonia Estradé, Tecnologia de MET aplicada a materials dels CCiTUB
|
|
