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La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) ha revolucionado la microscopía contemporánea y ha dado a los investigadores una herramienta muy potente para estudiar los materiales a escala submicrónica. En este seminario se hará una pequeña introducción sobre la Microscopía de Fuerza Atómica (configuración, modos clásicos de trabajo y aplicaciones generales) y se mostrará su potencialidad de análisis bajo diferentes condiciones experimentales para obtener información estructural y de composición a escala nanométrica de diferentes tipologías de muestras. Se mostrarán los nuevos modos de trabajo y las nuevas aplicaciones que se han desarrollado los últimos años y se finalizará con los nuevos set up basados en la combinación de diferentes técnicas microscópicas (AFM+RAMAN, AFM+IR, etc.) que representan una importante revolución tecnológica.
Fecha: 08/05/2013
Hora: 10:30h a 11:30h
Lugar: Aula de los CCiTUB. Edificio CCiTUB, 1ª planta. c/Lluís Solé i Sabarís, 1-3. Barcelona
Coste: Gratuito
Ponente:Jordi Díaz, Tecnología de Microscòpia de Sonda Próxima(AFM,STM) de los CCiTUB
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