Informació
La Microscòpia de Força Atòmica (AFM) ha revolucionat la microscòpia contemporània i ha donat als investigadors una eina molt potent per estudiar els materials a escala submicrònica. En aquest seminari es farà una petita introducció sobre la Microscòpia de Força Atòmica (configuració, modes clàssics de treball i aplicacions generals) i es mostrarà la seva potencialitat d'anàlisi sota diferents condicions experimentals per obtenir informació estructural i de composició a escala nanomètrica de diferents tipologies de mostres. Es mostraran els nous modes de treball i les noves aplicacions que s'han desenvolupat els darrers anys i es finalitzarà amb els nous set up basats en la combinació de diferents tècniques microscòpiques (AFM+RAMAN, AFM+IR, etc.) que representen una important revolució tecnològica.
Data: 08/05/2013
Hora: 10:30h a 11:30h
Lloc: Aula dels CCiTUB. Edifici CCiTUB, 1ª planta. c/Lluís Solé i Sabarís, 1-3. Barcelona
Cost: Gratuït
Ponent: Jordi Díaz, Tecnologia de Microscòpia de Sonda Pròxima(AFM,STM) dels CCiTUB
|
|
