Microsonda electrònica

• Microanàlisi de raigs X amb sonda d'electrons (EPMA) per espectrometria de raigs X dispersiva en longitud d'ona (WDS) i/o energia (EDS).

• Anàlisi elemental puntual (qualitatiu i quantitatiu).
• Perfils en línia i mapes de composició (qualitatius i quantitatius).
• Anàlisi puntual i perfil en línia de composició i gruix de capes primes i multicapes.
• Imatges d'electrons secundaris, retrodispersats i absorbits.
• Càlculs específics per minerals (fórmules estructurals, termes finals de les substitucions o solucions sòlides...).
• Recobriment amb carboni.

• Estudi de minerals indicadors en exploració minera (or, diamants, etc.)
• Anàlisi de minerals industrials. . Anàlisi de sediments i sòls (estudis ambientals)
• Anàlisi de capes primes i recobriments.
• Caracterització de la microestructura d'acers, aliatges i metalls. Anàlisi de defectes i precipitats. Anàlisi de soldadures.
• Control de qualitat de vidres, adobs, etc.

Cognoms	Nom	Ubicació	Telèfon	Email
LLOVET XIMENES	XAVIER	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934037203	xavier@ccit.ub.edu

(*) per a més informació.