Microsonda electrónica

Microanálisis de rayos X con sonda de electrones (EPMA) por espectrometría de rayos X dispersiva en longitud de onda (WDS) y/o energía (EDS).

	Análisis elemental puntual (cualitativo y cuantitativo).
	Perfiles en linea y mapas de composición (cualitativos y cuantitativos).
	Análisis puntual y perfil en linea de composición y grosor de capas finas y multicapas.
	Imágenes de electrones secundarios, retrodispersados y absorbidos.
	Cálculos específicos para minerales (fórmulas estructurales, términos finales de las substituciones o soluciones sólidas...).
	Recubrimiento con carbono.

	Estudio de minerales indicadores en exploración minera (oro, diamantes, etc.)
	Análisis de minerales industriales. . Análisis de sedimentos y suelos (estudios ambientales)
	Análisis de capas finas y recubrimientos.
	Caracterización de la microestructura de aceros, aleaciones y metales. Análisis de defectos y precipitados. Análisis de soldaduras.
	Control de calidad de vidrios, abonos, etc.

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LLOVET XIMENES	XAVIER	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934037203		xavier@ccit.ub.edu

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