Centres Científics i Tecnològics UB

Microsonda electrónica

  • Microanálisis de rayos X con sonda de electrones (EPMA) por espectrometría de rayos X dispersiva en longitud de onda (WDS) y/o energía (EDS).
  • Análisis elemental puntual (cualitativo y cuantitativo).
  • Perfiles en linea y mapas de composición (cualitativos y cuantitativos).
  • Análisis puntual y perfil en linea de composición y grosor de capas finas y multicapas.
  • Imágenes de electrones secundarios, retrodispersados y absorbidos.
  • Cálculos específicos para minerales (fórmulas estructurales, términos finales de las substituciones o soluciones sólidas...).
  • Recubrimiento con carbono.
  • Estudio de minerales indicadores en exploración minera (oro, diamantes, etc.)
  • Análisis de minerales industriales. . Análisis de sedimentos y suelos (estudios ambientales)
  • Análisis de capas finas y recubrimientos.
  • Caracterización de la microestructura de aceros, aleaciones y metales. Análisis de defectos y precipitados. Análisis de soldaduras.
  • Control de calidad de vidrios, abonos, etc.

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LLOVET XIMENES XAVIER CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3 934037203 xavier@ccit.ub.edu

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