Español
|
Català
|
English
Microsonda electrónica
Microanálisis de rayos X con sonda de electrones (EPMA) por espectrometría de rayos X dispersiva en longitud de onda (WDS) y/o energía (EDS).
Análisis elemental puntual (cualitativo y cuantitativo).
Perfiles en linea y mapas de composición (cualitativos y cuantitativos).
Análisis puntual y perfil en linea de composición y grosor de capas finas y multicapas.
Imágenes de electrones secundarios, retrodispersados y absorbidos.
Cálculos específicos para minerales (fórmulas estructurales, términos finales de las substituciones o soluciones sólidas...).
Recubrimiento con carbono.
Estudio de minerales indicadores en exploración minera (oro, diamantes, etc.)
Análisis de minerales industriales. . Análisis de sedimentos y suelos (estudios ambientales)
Análisis de capas finas y recubrimientos.
Caracterización de la microestructura de aceros, aleaciones y metales. Análisis de defectos y precipitados. Análisis de soldaduras.
Control de calidad de vidrios, abonos, etc.
Apellidos
Nombre
Ubicación
Teléfono
Email
LLOVET XIMENES
XAVIER
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934037203
xavier@ccit.ub.edu
(*) para más información
Enlaces de interés:
Contacta
Alta usuario
Equipamiento