Anàlisi de superfícies (ESCA / Auger)

• Espectroscòpia de fotoelectrons (ESCA o XPS).
• Microscòpia Auger (SAM).
• Espectroscòpia per excitació ultraviolada (UPS).

• Anàlisi química elemental i semiquantitativa de superfícies (primers 5-10 nanòmetres a la superfície del material).
• Tractament espectral especialitzat per a interpretar adequadament la informació obtinguda.

• Anàlisi de les contribucions de diferents estats químics d'un mateix element (per exemple oxidacions versus components metàl·liques).
• Estudis de problemes originats als processos de disseny o producció (com a contaminacions superficials) en, per exemple, pintures, productes químics, fàrmacs, cablejats, recobriments metàl·lics i implants dentals.
• Estudis perfilomètrics de materials amb estructures multicapa (fins a un màxim de 0,5 micres).

Cognoms	Nom	Ubicació	Telèfon	Email
CALVO BARRIO (*)	LORENZO	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934037203	lorenzo@ccit.ub.edu

(*) per a més informació.