| Objectius |
Preu |
Dates |
Lloc |
|
El workshop està dirigit a tots els usuaris interessats en l'ús de la microscòpia AFM per a la caracterització avançada de nous materials. Els assistents tindran l'oportunitat de comprovar les múltiples possibilitats d'aquesta tècnica durant les sessions pràctiques realitzades amb la plataforma AFM Dimension Icon d'última generació.
Programa:
9.00 – 9.15
Recepció d'assistents
9.15 – 9.30
Introducció i presentació
9.30 – 10.15
Presentació 1 – ICMAB-CSIC
10.15 – 11.00
Presentació 2 - IMB-CNM-CSIC
11.00 – 11.30
Pausa - cafè
12.00 – 13.30
Presentació Datacube – Mickaël Febvre, Bruker Nano Surfaces
13.30 – 15.00
Pausa - Dinar
15.00 – 17.30
“Hands on session” – Dimension Icon AFM
 Preu
Gratuït, els interessats en assistir a l'event hauran d'enviar un correu electrònic a instrumat@telstar.com, amb l'assumpte “2018 AFM Workshop Barcelona”, indicant les següents dades:
- Nom i cognom
- Institució / Empresa
- Correu electrònic
- Telèfon
12 de juny, de 9:00 a 17:30h.
|
Lugar
Universitat de Barcelona
Facultat de Física i Química
C. de Martí i Franquès, 1
08028, Barcelona
|
|
|
Organitza: |
|
|
Centres Científics i Tecnològics
Universitat de Barcelona
Director: Dr. José Ramón Seoane Trigo
Coordinador:
Dr. Jordi Díaz
Microscòpia de sonda pròxima (AFM, STM) i interferometria-confocal.
|
AZBIL TELSTAR
|
BRUKER
|
|
 |
 |
 |
Col·labora:
|
|
|
IN2UB
|
 |
|
Contingut |
Documents |
|
| Informació resumida |
+info  |
|
|
