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El workshop está dirigido a todos los usuarios interesados en el uso de la microscopía AFM para la caracterización avanzada de nuevos materiales. Los asistentes tendrán la oportunidad de comprobar las múltiples posibilidades de esta técnica durante las sesiones prácticas realizadas con la plataforma AFM Dimension Icon de última generación.
Programa:
9.00 – 9.15
Recepción de asistentes
9.15 – 9.30
Introducción y presentación
9.30 – 10.15
Presentación 1 – ICMAB-CSIC
10.15 – 11.00
Presentación 2 - IMB-CNM-CSIC
11.00 – 11.30
Pausa - café
12.00 – 13.30
Presentación Datacube – Mickaël Febvre, Bruker Nano Surfaces
13.30 – 15.00
Pausa - Comida
15.00 – 17.30
“Hands on session” – Dimension Icon AFM
 Precio
Gratuito, los interesados en asistir al evento deberán enviar un correo electrónico a instrumat@telstar.com, con el asunto “2018 AFM Workshop Barcelona”, e indicando los siguientes datos:
- Nombre y apellido
- Institución / Empresa
- Correo electrónico
- Teléfono
12 de junio, de 9:00 a 17:30h.
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Lugar
Facultad de Física y Química
Universidad de Barcelona
C. de Martí i Franquès, 1
08028, Barcelona
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Organiza: |
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Centres Científics i Tecnològics
Universitat de Barcelona
Director: Dr. José Ramón Seoane Trigo
Coordinador:
Dr. Jordi Díaz
Microscopía de sonda pròxima (AFM, STM) y interferometría-confocal.
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AZBIL TELSTAR
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BRUKER
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Colabora:
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IN2UB
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Contenido |
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+info  |
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