JEM 2010F

El microscopio TEM JEM2010F está equipado con un cañón de electrones de emisión de campo, por lo que proporciona una mayor intensidad y una mayor resolución tanto en modo de haz paralelo (HRTEM) como en modo de barrido (STEM).
El microscopio cuenta con un filtro de energía para el análisis de pérdida de energía de los electrones (espectroscopia EELS). Además del estudio de la composición química, esta técnica permite obtener estados de valencia y coordinación mediante el análisis de la estructura fina de los bordes, o acceder a propiedades optoelectrónicas de los materiales mediante el análisis de la zona de bajas pérdidas de los espectros.

Características del equipo

• Voltaje de aceleración: 200 kV
• Cañón de electrones de emisión de campo (FEG)
• Cámara CCD Gatan ORIUS SC200
• Unidad de STEM con detectores de campo claro (BF) y campo oscuro a alto ángulo (HAADF)
• Filtro de energía para el análisis mediante pérdida de energía de los electrones (GIF)
• Sistema de precesión del haz de electrones (DIGISTAR)
• Sistema para el mapeado de fases y orientaciones cristalinas (ASTAR)
• Sistema para el mapeado de tensiones cristalinas (TOPSPIN)
• Portamuestras JEOL para tomografía (±70o)
• Portamuestras Nanofactory TEM-STM para medidas eléctricas in situ

Aplicaciones de la tecnología

• Obtención de imágenes HRTEM de materiales cristalinos (nanopartículas, nanohilos, películas delgadas, etc.)
• Mapeado químico mediante STEM-EELS.
• Crystal orientation and phase mapping (ASTAR)
• Strain mapping (TOPSPIN)

Ubicación

El microscopio TEM JEM 2010F se gestiona desde la Unidad de microscopía electrónica y técnicas afines y está ubicado en el Campus Diagonal, en el edificio principal de los CCiTUB.