JSM 6510
El microscopio SEM JSM 6510 de JEOL es Microscopio Electrónico de Barrido (termoiónico).
Características del equipo
• Detector EDS Pentafex-INCA (Oxford Instruments)
• Detector de electrones secundarios E-T (en cámara)
• Detector de electrones retrodispersados (en cámara)
• Unidad de congelación (Cryo-SEM) ALTO1000 Gatan
Aplicaciones de la tecnología
• Microscopía en alto vacío
• Caracterización microscópica de materiales
• Microanálisis cualitativo de materiales sólidos
• Observación y microanálisis de muestras hidratadas congeladas
Ubicación
El microscopio SEM JSM 6510 se gestiona desde la Unidad de microscopía electrónica y técnicas afines y está ubicado en el Campus Diagonal, en el edificio principal de los CCiTUB.