JSM 6510

El microscopi SEM JSM 6510 de JEOL és un Microscopi Electrònic d’Escaneig (termoiónic)..

Característiques de l’equip

• Detector EDS Pentafex‑INCA (Oxford Instruments)
• Detector d’electrons secundaris E‑T (a càmera)
• Detector d’electrons retrodispersats (a càmera)
• Unitat de congelació (Cryo‑SEM) ALTO1000 Gatan

Aplicacions de la tecnologia

• Microscopía en alt buit
• Caracterització microscòpica de materials
• Microanàlisi qualitativa de materials sòlids
• Observació i microanàlisi de mostres hidratades congelades

Ubicació

El microscopi SEM JSM 6510 es gestiona des de la Unitat de Microscòpia Electrònica i Tècniques Afins i està ubicat al Campus Diagonal, a l’edifici principal dels CCiTUB.