Centres Científics i Tecnològics UB

Workshop: Tendencias de la microscopía AFM

Información Fecha Inscripción Lugar


 Información

Workshop dirigido a todos aquellos que utilizan, o estén pensando en utilizar, las tecnologías AFM para la caracterización de materiales y que deseen conocer las nuevas tendencias de la microscopía AFM.

Dentro de las sesiones prácticas, se invitará a los asistentes a participar con sus propias muestras para comprobar el potencial de las tecnologías actuales.

 Fecha

6 de octubre de 2015.

 Inscripción

Inscripción cerrada.

 Lugar

Facultad de Física de la Universidad de Barcelona
Aula Eduard Fontseré
Carrer de Martí i Franquès, 1
08028 Barcelona

Programa:

Bloque 1
  • 9.00 a 9.15: Recepción de asistentes
  • 9.15 a 9.30: Introducción al workshop y presentación
  • 9.30 a 10.15: Fast Scanning AFM | The New Keysight 9500 - Dr. Gerald Kada, Keysight Technologies GmbH
  • 10.15 a 11.30: Measurements Block1: Ultrafast measurements and dynamic process
  • 11.30 a 12.00: Descanso - café
  • 12.00 a 13.30: Measurements Block2: Electrical and mechanical measurements
Bloque 2
  • 15.00 a 15.30: Biological applications with AFM - Dr. Gerald Kada, Keysight Technologies GmbH
  • 15.30 a 17.30: Measurements Block3: BioAFM measurements

Organizadores:
Centros Científicos y Tecnológicos
Universitat de Barcelona
Director: Dr. José Ramón Seoane Trigo

Coordinador:
Dr. Jordi Díaz
Tecnología de Técnicas nanoBio SPM (AFM, STM) de los CCiTUB.











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