Técnicas nanoBio SPM (AFM, STM)

	Microscopías SPM (AFM, LFM, MFM, EFM, c-AFM, TUNA)
	Espectroscopía de fuerzas (propiedades nanomecánicas)

	Análisis topográfica con resolución atómica.
	Medición de propiedades nanomecánicas.
	Mediciones de propiedades físicas: conductividad, dominios magnéticos y cargas superficiales.
	Medición de contrast composicional: mesura de fase i fricció quantitativa (LFM).
	Mediciones con microscopía óptica avanzada (confocal, interferometría, óptica)
	Mediciones rugosidad superficial con escala desde el nm hasta el mm.
	Análisis de muestras metálicas, poliméricas, cerámicas y composites a nivel nano.
	Cursos de formación de autousuarios.
	Estudios científicos de materiales a nivel nano.

	Topografía superficial de materiales.
	Topografía 3D de implantes.
	Análisis de propiedades mecánicas de productos cosméticos.
	Medición de contraste composicional.
	Medición de propiedades físicas (conducción, magnetismo).
	Grosor de capas finas conductoras o ferromagnéticas (Electrónica/Spintrónica).
	Textura superficial en superficies ópticas (Óptica).
	Desgaste de piezas mecánicas. Rodamientos, piezas de fricción, ...... (Mecánica).
	Análisis de el acabado superficial de piezas mecanizadas o electropulidas (QC Industrial).
	Textura superficial en sólidos de aplicación en alimentación y cosmética (Formulación Ind).
	Degradación superficial de materiales Biocompatibles (Bio).
	Topografía de materiales Biológicos (Dientes, Huesos, Piel,....).
	Aplicaciones de los parámetros de rugosidad 3D (tribología, odontología, química, óptica,...).
	Estudios de propiedades nanomecánicas (adhesión, etc) con control de humedad.
	Estudio de propiedades físicas y morfológicas para el campo de la nanoseguridad.

Apellidos	Nombre	Ubicación	Teléfono	Fax	Email
DIAZ MARCOS (*)	JORDI	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934020593/ 934034754	934021398	jdiaz@ccit.ub.edu
VILLUENDAS LATORRE	ARANZAZU	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934020593/ 934034754	934021398	aranzavila@ccit.ub.edu

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