Centres Científics i Tecnològics UB

Workshop: Tendències de la microscòpia AFM

Informació Data Inscripció Lloc


 Informació

Workshop dirigit a tots aquells que utilitzen, o estiguin pensant en utilitzar, les tecnologies AFM per a la caracterització de materials i que desitgin conèixer les noves tendències de la microscòpia AFM.

Dins de les sessions pràctiques, es convidarà als assistents a participar amb les seves pròpies mostres per a comprovar el potencial de les tecnologies actuals.

 Data

6 d'octubre 2015.

 Inscripció

Inscripció tancada.

 Lloc

Facultat de Física de la Universitat de Barcelona
Aula Eduard Fontseré
Carrer de Martí i Franquès, 1
08028 Barcelona

Programa :

bloc 1
  • 9.00 a 9.15: Recepció d'assistents
  • 9.15 a 9.30: Introducció al workshop i presentació
  • 9.30 a 10.15: Fast Scanning AFM | The New Keysight 9500 - Dr. Gerald Kada, Keysight Technologies GmbH
  • 10.15 a 11.30: Measurements Block1: Ultrafast measurements and dynamic process
  • 11.30 a 12.00: Descans - cafè
  • 12.00 a 13.30: Measurements Block2: Electrical and mechanical measurements
bloc 2
  • 15.00 a 15.30: Biological applications with AFM - Dr. Gerald Kada, Keysight Technologies GmbH
  • 15.30 a 17.30: Measurements Block3: BioAFM measurements

Organitza:
Centres Científics i Tecnològics
Universitat de Barcelona
Director: Dr. José Ramón Seoane Trigo

Coordinador:
Dr. Jordi Díaz
Tecnologia de Tècniques nanoBio SPM (AFM, STM) dels CCiTUB.











[Altres Activitats]