| Objectius |
Dates |
Preu |
Lloc |
|
 Objectius
Workshop per a descobrir les tecnologies de ZEISS en l'entorn de la Microscopia Òptica Avançada amb "Scanning" Confocal i Microscopi de Superresolució. També es parlarà dels nous descobriments en Microscopia Electrònica i Raigs-X.
Dates
3 Març 2015
Preu: Gratuït prèvia inscripció
Places limitades.
Els participants rebran dels Centres Científics i Tecnològics un certificat d'assistència al workshop .
Facultat de Medicina
Universitat de Barcelona
C/ Casanova, 143
Aula 7, Planta 3
08036 Barcelona
|
|
|
3 Març 2015
| 9.30 | Welcome and Introduction (Anita Sonnenfroh /Carsten Hoyer, ZEISS)
|
| 9:45 | "LSM 8 Family. 880, 800 and Airyscan" (Gerry Sexton, ZEISS)
|
| 10:30 | "Advanced Light Microscopy: A matter of Speed, duration, size and resolution" (Jacques Paysan, ZEISS)
|
| 11.15 | Coffee Break
|
| 11.45 | "Advanced Optical Microscopy applied to Biomedicine" (María Calvo, CCiTUB)
|
| 12.30 | "ZEISS Xradia Versa/Ultra: A real X-Ray Microscope" (David Jiménez Gil, ZEISS)
|
| 13:15 | "New developments in SEM/FIB Microscopy: Crossbeam 340/540" (Peter Gnauck, ZEISS)
|
| 14:00 | Lunch
|
| 15:30 | "News in 3D SEM Imaging - More Volume in Less Time" (Joerg Lindenau, ZEISS)
|
| 16:15 | "Helium Ion Microscopy: Advancements from 0.35 nm Imaging to Sub 10 nm nanopattering" (Peter Gnauck, ZEISS)
|
| 17:00 | "Electron Microscopy in Life Sciences" (Josep Rebled, CCiTUB)
|
| 17:45 | End of Workshop
|
|
Organitza: |
|
Centres Científics i Tecnològics
Universitat de Barcelona
Director: Dr. Jose Ramón Seoane Trigo
|
ZEISS
|
Coordinació: |
|
Sr. Ferran Seco.
Relacions Externes i Assessorament Tecnològic dels CCiTUB.
| |
 |
 |
 |
|
|
