New Techniques in Advanced microscopy

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Objetivos Workshop para descubrir las tecnologías de ZEISS en el entorno de la Microscopía Óptica Avanzada con "Scanning" Confocal y Microscopio de Superresolución. También se hablarà de los nuevos descubrimientos en Microscopía Electrónica y Rayos-X.  Fechas 3 Marzo 2015  Precio Precio: Gratuito previa inscripción Plazas limitadas Los participantes recibirán de los Centros Científicos y Tecnológicos un certificado de asistencia al workshop.  Lugar Facultad de Medicina Universitat de Barcelona C/ Casanova, 143 Aula 7, Planta 3 08036 Barcelona

3 Marzo 2015 9.30 Welcome and Introduction (Anita Sonnenfroh /Carsten Hoyer, ZEISS) 9:45 "LSM 8 Family. 880, 800 and Airyscan" (Gerry Sexton, ZEISS) 10:30 "Advanced Light Microscopy: A matter of Speed, duration, size and resolution" (Jacques Paysan, ZEISS) 11.15 Coffee Break 11.45 "Advanced Optical Microscopy applied to Biomedicine" (María Calvo, CCiTUB) 12.30 "ZEISS Xradia Versa/Ultra: A real X-Ray Microscope" (David Jiménez Gil, ZEISS) 13:15 "New developments in SEM/FIB Microscopy: Crossbeam 340/540" (Peter Gnauck, ZEISS) 14:00 Lunch 15:30 "News in 3D SEM Imaging - More Volume in Less Time" (Joerg Lindenau, ZEISS) 16:15 "Helium Ion Microscopy: Advancements from 0.35 nm Imaging to Sub 10 nm nanopattering" (Peter Gnauck, ZEISS) 17:00 "Electron Microscopy in Life Sciences" (Josep Rebled, CCiTUB) 17:45 End of Workshop

Inscripción cerrada.

Organiza: Centres Científics i Tecnològics Universitat de Barcelona Director: Dr. Jose Ramón Seoane Trigo ZEISS Coordinación: Sr. Ferran Seco. Relaciones Externas y Asesoramiento Tecnológico de los CCiTUB.