JEM 2100
El microscopi TEM JEM 2100 és un equip molt versàtil que permet la caracterització de mostres tant en l’àmbit de la ciència de materials com en el de les ciències de la vida. Proporciona informació morfològica i estructural tant en mode imatge (HRTEM) com en mode difracció (SAED o PED), així com informació química mitjançant espectroscòpia XEDS.
Característiques de l’equip
• Voltatge d’acceleració: 120 kV – 200 kV
• Canó d’electrons termoiónic de LaB₆
• Càmera CCD Gatan ORIUS SC1000A
• Unitat STEM amb detectors de camp clar (BF) i camp fosc d’alt angle (HAADF)
• Sistema de microanàlisi per XEDS (Oxford Instruments)
• Sistema de precessió del feix d’electrons (DIGISTAR)
• Sistema per al mapatge de fases i orientacions cristal·lines(ASTAR)
• Sistema per al mapatge de tensions cristal·lines (TOPSPIN)
• Portamostres JEOL per a tomografia (±70°)
• Portamostres Nanofactory TEM‑STM per a mesures elèctriques in situ
Aplicacions de la tecnologia
• Caracterització morfològica de mostres tant de materials com de biologia
• Caracterització estructural de materials cristal·lins (HRTEM, SAED, PED)
• Mapatge de composició química (STEM‑XEDS)
• Mapatge de fases i orientacions cristal·lines (ASTAR)
Ubicació
El microscopi TEM JEM 2100 es gestiona des de la Unitat de Microscòpia Electrònica i Tècniques Afins i està ubicat al Campus Diagonal, a l’edifici principal dels CCiTUB.