
Els CCiTUB ha incorporat un equip de doble feix FIB/SEM d’última generació, el CrossBeam 350 de Zeiss, gràcies a la concessió de l’ajut EQC2021-007336-P finançat pel Ministeri de Ciència i Innovació i Fons de la Unió Europea Next Generation EU (convocatòria corresponent a l’any 2021) dotat amb 1.228.000€.
Aquest instrument, que actualment s’està instal·lant a la Unitat de Microscòpia Electrònica i Tècniques Afins al Campus Diagonal, combina en un sol sistema tecnologies d’alta resolució, preparació de mostres i caracterització avançada, fet que el converteix en una eina clau per afrontar reptes científics emergents. L’equip permetrà desenvolupar noves metodologies i aplicacions capdavanteres tant en l’àmbit de la ciència de materials com en el de les ciències de la vida.
Una de les capacitats més destacades és l’obtenció d’imatges d’altíssima resolució sobre un ampli ventall de mostres. A més, permet l’observació simultània amb feix d’electrons i d’ions, una combinació que incrementa notablement el detall i la precisió de les anàlisis. L’equip permet també obtenir imatges amb correlació espacial amb les obtingudes mitjançant microscòpia òptica. Aquesta característica, combinada amb la capacitat de funcionar en mode criogènic al llarg de tot el procés, resulta especialment útil per a estudis de biologia estructural.
El nou equip destaca també per la seva capacitat de millorar la preparació de mostres per a microscòpia electrònica de transmissió (TEM). És capaç de generar lamel·les extremadament fines i específiques mitjançant tècniques com el lift‑out o la preparació de xips MEMS per a estudis in situ. Totes aquestes operacions poden dur-se a terme tant a temperatura ambient com en mode criogènic a temperatura de nitrogen líquid, la qual cosa garanteix la preservació estructural de mostres sensibles.
L’equip integra diversos detectors que faciliten una caracterització morfològica i composicional completa. Entre les possibilitats analítiques destaquen l’anàlisi químic de microestructures, l’obtenció d’informació composicional en 2D i 3D o la realització de sèries tomogràfiques mitjançant talls nanomètrics, tant de mostres biològiques com de materials.
Aquestes funcionalitats permeten reconstruir volums tridimensionals amb gran precisió i obtenir una comprensió profunda de l’organització interna de les mostres.
A més de l’observació i anàlisi, el nou instrument permet la modificació i creació d’estructures mitjançant el feix d’ions focalitzat (FIB) i l’ús de diferents tipus de gasos. Aquesta capacitat obre la porta a aplicacions en micro i nanoenginyeria, així com a la fabricació de estructures funcionals o prototips a escala nanomètrica.