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Microscopía electrónica de barrido
SEM convencional (electrones secundarios y retrodispersados).
FE-SEM (alta resolución).
ESEM (bajo vacío).
Microanálisis RX (EDS).
Catodoluminiscencia SEM-CL.
Difracción de electrones BSED.
Cryo-SEM.
Preparación de muestras para SEM.
Observación y análisis de materiales sólidos.
Asistencia técnica en todas las técnicas disponibles.
Superficies tratadas.
Caracterización de materiales sólidos.
Caracterización de minerales y rocas.
Partículas y contaminantes.
Productos farmacéuticos.
Control de calidad.
Apellidos
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ARTIAGA TORRES
DAVID
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934021701
934021398
dartiaga@ccit.ub.edu
GARCIA VEIGAS (*)
JAVIER
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934021701
934021398
veigas@ccit.ub.edu
LIZANDRA BURSET
RAQUEL
CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3
934021701
rlizandra@ccit.ub.edu
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