Microscopía electrónica de barrido

	SEM convencional (electrones secundarios y retrodispersados).
	FE-SEM (alta resolución).
	ESEM (bajo vacío).
	Microanálisis RX (EDS).
	Catodoluminiscencia SEM-CL.
	Difracción de electrones BSED.
	Cryo-SEM.

	Preparación de muestras para SEM.
	Observación y análisis de materiales sólidos.
	Asistencia técnica en todas las técnicas disponibles.

	Superficies tratadas.
	Caracterización de materiales sólidos.
	Caracterización de minerales y rocas.
	Partículas y contaminantes.
	Productos farmacéuticos.
	Control de calidad.

Apellidos	Nombre	Ubicación	Teléfono	Fax	Email
ARTIAGA TORRES	DAVID	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021701	934021398	dartiaga@ccit.ub.edu
GARCIA VEIGAS (*)	JAVIER	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021701	934021398	veigas@ccit.ub.edu

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