Difracción de rayos X (DRX)

• DRX de materiales policristalinos en geometrias de reflexión y transmisión.
• DRX de materiales policristalinos en geometrias de reflexión y transmisión en función de la temperatura (termodifractometría).
• DRX de monocristal para resolución de estructuras cristalinas.
• DRX en incidencia rasante.
• DRX con goniómetro de texturas.
• DRX de capas finas heteroepitaxiales en alta y baja resolución.
• Reflectometría de rayos X.

• Determinación de estructuras cristalinas. Caracterizaciones cristalográficas.
• Análisis de cristalinidad.
• Análisis de isoestructuralidad, isomorfismo y miscibilidad en estado sólido.
• Análisis cualitativa de fases cristalinas.
• Análisis semicuantitativa y cuantitativa de fases cristalinas (y eventualmente de fases amorfas).
• Análisis de fases en función de la profundidad en materiales en capa fina.
• Estudios de polimorfismo y pseudopolimorfismo.
• Termodifractometría: Estudios de transiciones de fases; seguimiento de reacciones en estado sólido; dilatación tèrmica; etc.
• Ajuste de perfil de difracción: Método de Rietveld.
• Análisis de microestructura: Medida de dominios difractantes y microdeformaciones.
• Determinación de grosores, densidades y rugosidades de materiales en capa fina.
• Análisis de texturas y orientaciones preferentes.
• Determinación de tensiones residuales.
• Determinación de estados de tensión / relajación en capas heteroepitaxiales.
• Determinación de composiciones en heteroepitaxias de semiconductores.
• Determinación de orientación en monocristales.
• Difracción in plane.

• Estudios de polimorfismo en fármacos y especialidades farmacéuticas.
• Estudios de isoestructuralidad y isomorfismo en fármacos y especialidades farmacéuticas.
• Determinación de estructuras cristalinas de materiales de nueva síntesis.
• Análisis de fases de hormigones, cementos, áridos y similares.
• Análisis de fases cualitativa y cuantitativa de materiales geológicos.
• Caracterizaciones de materiales de recubrimientos y en capa fina.
• Determinación de tensiones residuales en aceros, otros metales y en recubrimientos.

Apellidos	Nombre	Ubicación	Teléfono	Email
ALCOBE OLLE (*)	XAVIER	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021692	alcobe@ccit.ub.edu
ARMENGOL GARIN	XÈNIA	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021692	xarmengol@ccit.ub.edu
BASSAS ALSINA	JOSEP MARIA	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021692	bassas@ccit.ub.edu
PUIGJANER VALLET	MARIA CRISTINA	CCiTUB - C/ Lluis Solé i Sabarís, 1-3	934021692	cris@ccit.ub.edu

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