Workshop avanzado d'AFM en medidas biológicas y soft materials

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Objetivos del curso Obtener parámetros mecánicos cualitativos y cuantitativos de todo tipo de muestras mediante el uso de diferentes modos de trabajo de AFM, tanto en aire como en líquido. Los asistentes pueden traer sus muestras para que los ingenieros de aplicaciones den soluciones a sus problemas específicos. Las charlas técnicas y científicas impartidas por técnicos de aplicaciones y científicos de renombre darán la base teórica. Las sesiones prácticas con AFMs de última generación proporcionarán los conocimientos experimentales. El número reducido de asistentes facilitará la máxima interacción entre los expertos y los estudiantes.  A quién va dirigido Los cursos ofrecen entrenamiento específico sobre Microscopía de Fuerzas Atómicas para estudiantes de doctorado, post-doctorado o científicos en general que trabajen en Ciencias de la Vida o Ciencia de Materiales. Indicado para nuevos usuarios del AFM o usuarios que busquen un entrenamiento teórico/práctico avanzado sobre este modo de trabajo específico.  Metodología Charlas técnicas y científicas: 4 horas Demostraciones prácticas: 4 horas  Fecha 21 de noviembre  Lugar Edificio CCiTUB C/ Lluís Solé i Sabarís, 1 08028 Barcelona

8.30-9.00h Registro 9.00-09.30h Introducción de Instrumentos JPK y la familia NanoWizard 3 AFM 9.30-10.15h Presentación oral por orador invitado 10.15-10.50h Coffee Break 10.50-11.55h Charla 1 técnico / práctica: Quantitative Imaging of Biological and Soft Materials - The new QI mode for easy operation and nanomechanical analysis 12.00-13.15h Charla 2 técnico / práctica: AFM applications in Biomaterials Research 13.15-14.30h Almuerzo(no incluido) 14.30-18.00h Práctica, demostración por JPK

Inscripció Tancada Para más información: Tecnología de Microscopía de sonda próxima (AFM, STM) y interferometría-confocal. CCiTUB.

Organiza: Centres Científics i Tecnològics Universitat de Barcelona Director: Dr. Jose Ramón Seoane Trigo Coordinador: Dr. Jordi Díaz Tecnología de Microscopía de sonda próxima (AFM, STM) y interferometría-confocal. CCiTUB. JPK

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