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11.12.2020Nuevos detectores SDD. Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
En la Unidad de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) se han sustituido los detectores EDS de los tres microscopios por nuevos detectores SDD (Silicon Drift Detector). Estos cambios permiten disponer de un área de detección más amplio, reducir el tiempo de adquisición i aumentar la calidad de las medidas.
SEM FEI QUANTA 200
- Detector EDS: Thermo Fisher UltraDry, 30 mm2
- Software de control: PathFinder Alpine [+]
SEM JEOL J6510 i FESEM JEOL J7100
