Noticies
09.10.2012
|
|
|
El projecte ha estat portat a terme per Joaquim Portillo, Sonia Estradé, i Lluís Yedra, tècnics de la Tecnologia de microscòpia electrònica de transmissió dels CCiTUB, juntament amb investigadors del Departament d’Electrònica de la Universitat de Barcelona i de l’Institut de Nanociències i Nanotecnologia (IN2UB). Tots ells han treballat en un projecte signat pels CCiTUB, en col·laboració amb NanoMEGAS, una empresa Belga especialitzada en el desenvolupament d’accessoris per a microscopis electrònics de transmissió, i AppFive, una companyia americana de software per a microscòpia. Aquesta nova tecnologia es basa en la combinació de la precessió del feix d’electrons amb l’espectroscòpia de pèrdua d’energia dels electrons i amb l’espectroscòpia de raigs X en microscòpia electrònica de transmissió. La precessió del feix d'electrons millora la relació senyal a soroll en aquestes tècniques analítiques i, per tant, la precisió en l'anàlisi de les dades experimentals per tal d'extreure informació quantitativa dels materials estudiats (per exemple: la seva composició atòmica). Arran d’aquest projecte, la UB ha registrat una patent europea per aquesta tecnologia i ha estat negociada la seva aplicació comercial per l’empresa NanoMEGAS. El producte final es posarà en marxa a finals de 2012 o principis de 2013. | |