Centres Científics i Tecnològics UB

Espectrometria de Masses d'Ions Secundaris (SIMS)

Contacte: info@ccit.ub.edu

Espectrometria de Masses d'Ions Secundaris (SIMS)
Anàlisi de composició i homogeneïtat en profunditat en capes fines.
Anàlisi de composició en superfícies.
Anàlisi de traces i dopants en semiconductors en funció de la profunditat.
Detecció d'impureses en capes fines o en volum.
Traçat del perfil de composició d'una implantació de B en c-Si.
Comprovació de la homogeneïtat d’elements en capes fines de C micro cristal·lí.
Estudi de la difusió en la interfície de capes fines de Si amorf.
Anàlisi de la periodicitat en multi-capes metàl·liques Cr/CrC.
Determinació de contaminants en cèl·lules solars fotovoltaiques.

Cognoms Nom Ubicació Telèfon Fax Email
LOPEZ FERNANDEZ (*) FRANCISCO Fac. Química C/ Martí i Franquès, 1 934021134 934021138 franlopez@ccit.ub.edu


      (*) per a més informació